一種用于扁平引腳芯片的測試裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201610160646.5 申請日 -
公開（公告）號 CN105676114A 公開（公告）日 2016-06-15
申請公布號 CN105676114A 申請公布日 2016-06-15
分類號 G01R31/28(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 俞璟峰;殷德駿;張龍 申請（專利權(quán)）人 安拓銳高新測試技術(shù)（蘇州）有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京科億知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 安拓銳高新測試技術(shù)（蘇州）有限公司
地址 215021 江蘇省蘇州市工業(yè)園區(qū)蘇虹中路255號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種用于扁平引腳芯片的測試裝置，包括測試座、絕緣彈性棒以及多排并列的若干彈性導(dǎo)電接觸片；同排并列的所述彈性導(dǎo)電接觸片穿套于絕緣彈性棒并夾設(shè)于所述測試座內(nèi)；所述彈性導(dǎo)電接觸片的底部形成與測試線路板線/面接觸的下觸面，頂部形成與被測芯片引腳線接觸的上觸面；所述上、下觸面分別伸出測試座的上、下表面。本發(fā)明通過巧妙地設(shè)置彈性導(dǎo)電接觸片穿套絕緣彈性棒并夾設(shè)于所述測試座內(nèi),并以線/面接觸的方式對扁平引腳芯片進(jìn)行測試，克服了現(xiàn)有技術(shù)中采用彈簧探針以點(diǎn)接觸方式進(jìn)行測試所產(chǎn)生的性能不可靠、易磨損、對測試環(huán)境影響大以及兼容性差等問題。