一種基于雙面引腳陣列半導(dǎo)體芯片的測(cè)試治具
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201520709032.9 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN205049698U | 公開(kāi)（公告）日 | 2016-02-24 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN205049698U | 申請(qǐng)公布日 | 2016-02-24 |
| 分類號(hào) | G01R31/28(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 周惠春;陳金榮;戴云 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 安拓銳高新測(cè)試技術(shù)（蘇州）有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京科億知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 安拓銳高新測(cè)試技術(shù)（蘇州）有限公司 |
| 地址 | 215021 江蘇省蘇州市工業(yè)園區(qū)蘇虹中路255號(hào) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本實(shí)用新型公開(kāi)了一種基于雙面引腳陣列半導(dǎo)體芯片的測(cè)試治具，包括測(cè)試主板、主測(cè)試插座探針定位板、主測(cè)試插座探針保持板、主測(cè)試插座彈簧測(cè)試探針、被測(cè)半導(dǎo)體芯片、上測(cè)試座輔助測(cè)試電路板、上測(cè)試插座探針定位板、上測(cè)試插座探針保持板、上測(cè)試插座彈簧測(cè)試探針、測(cè)試用存儲(chǔ)芯片、存儲(chǔ)芯片測(cè)試插座探針定位板、存儲(chǔ)芯片測(cè)試插座探針保持板、存儲(chǔ)芯片測(cè)試插座彈簧測(cè)試探針和壓塊。本實(shí)用新型是在傳統(tǒng)的測(cè)試座的基礎(chǔ)上，通過(guò)上測(cè)試插座以及上測(cè)試插座輔助測(cè)試電路板及存儲(chǔ)芯片測(cè)試插座，構(gòu)建一種新的測(cè)試架構(gòu)，從而完成雙面引腳陣列半導(dǎo)體芯片的系統(tǒng)測(cè)試，滿足雙面引腳陣列半導(dǎo)體芯片新型封裝技術(shù)的需要。 |
