一種共聚焦三維測量系統(tǒng)和坐標、顏色測量方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202111020692.2 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113776459A | 公開(公告)日 | 2021-12-10 |
申請公布號 | CN113776459A | 申請公布日 | 2021-12-10 |
分類號 | G01B11/24(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 魏悅 | 申請(專利權(quán))人 | 上海美沃精密儀器股份有限公司 |
代理機構(gòu) | 上海申匯專利代理有限公司 | 代理人 | 翁若瑩 |
地址 | 201100上海市閔行區(qū)三魯公路3279號明浦二期7號樓1-3樓 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種共聚焦三維測量系統(tǒng),其特征在于,包括激光光源、數(shù)字微鏡陣列、分光器件、深度掃描透鏡和圖像傳感器;所述激光光源發(fā)射一定直徑的準直激光投射在數(shù)字微鏡陣列,經(jīng)數(shù)字微鏡陣列的反光鏡陣列投射一組具有一定間隔的點陣列通過分光器件到被測的目標物體表面,投射在目標物體上不同深度上的光點信息,經(jīng)深度掃描透鏡后由圖像傳感器采集。 |
