一種抗ESD能力的測(cè)試裝置及方法
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201310044261.9 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(kāi)(公告)號(hào) | CN103105558B | 公開(kāi)(公告)日 | 2015-06-03 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN103105558B | 申請(qǐng)公布日 | 2015-06-03 |
分類號(hào) | G01R31/00(2006.01)I | 分類 | 測(cè)量;測(cè)試; |
發(fā)明人 | 宋良奎;劉東;周自立;姚伏恒;劉海峰;周衛(wèi)華 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 深圳市中顯微電子有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 廣東星辰律師事務(wù)所 | 代理人 | 深圳市中顯微電子有限公司 |
地址 | 518083 廣東省深圳市鹽田區(qū)北山工業(yè)區(qū)6棟1-5層 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明屬于電子元器件抗ESD能力的測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種抗ESD能力的測(cè)試裝置及方法。本發(fā)明抗ESD能力的測(cè)試裝置包括ESD測(cè)試平臺(tái)、定位裝置、被測(cè)器件和靜電槍,所述定位裝置位于ESD測(cè)試平臺(tái)的上方,所述被測(cè)器件置于定位裝置內(nèi),通過(guò)所述定位裝置將靜電槍的釋放端與被測(cè)器件表面的測(cè)量距離固定在一定標(biāo)準(zhǔn)值。本發(fā)明實(shí)施例的抗ESD能力的測(cè)試裝置及方法可依據(jù)空氣放電和接觸式放電的不同需求,通過(guò)來(lái)高度控制裝置微調(diào)可升降支架的高度,以滿足在空氣式放電測(cè)試時(shí)使靜電槍的釋放端與被測(cè)器件表面的距離固定在一定標(biāo)準(zhǔn)值,并可依據(jù)被測(cè)器件的大小進(jìn)行差異化設(shè)計(jì)和制作,以滿足測(cè)量時(shí)的定位需要。 |
