一種基于FPGA的速率可調(diào)快速掃描測(cè)試硬件電路

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202022504865.5 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN214011435U 公開(kāi)（公告）日 2021-08-20
申請(qǐng)公布號(hào) CN214011435U 申請(qǐng)公布日 2021-08-20
分類號(hào) G01R31/3185（2006.01）I;G01R31/3183（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 黃浩;李全任 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 南京宏泰半導(dǎo)體科技股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京眾合誠(chéng)成知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 劉珊珊
地址 210000江蘇省南京市浦口區(qū)江浦街道浦濱大道320號(hào)科創(chuàng)廣場(chǎng)科創(chuàng)總部大廈B座24樓B2411室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型提出一種基于FPGA的速率可調(diào)快速掃描測(cè)試硬件電路，包括：FPGA芯片、高速低精度采樣回路、低速高精度采樣回路及觸發(fā)控制模塊；其中，F(xiàn)PGA芯片根據(jù)上位機(jī)指令啟動(dòng)高速低精度采樣回路或低速高精度采樣回路對(duì)采樣點(diǎn)輸出的電壓信號(hào)進(jìn)行AD采樣；觸發(fā)控制模塊檢測(cè)采樣點(diǎn)輸出的電壓信號(hào)，當(dāng)檢測(cè)到采樣點(diǎn)的輸出信號(hào)發(fā)生反轉(zhuǎn)時(shí)，觸發(fā)FPGA芯片選通高速低精度采樣回路對(duì)采樣點(diǎn)輸出的電壓信號(hào)進(jìn)行AD采樣。本實(shí)用新型能夠基于不同采樣需求切換具有不同采樣速率的采樣回路對(duì)采樣點(diǎn)進(jìn)行采樣，同時(shí)設(shè)置觸發(fā)控制模塊對(duì)采樣點(diǎn)進(jìn)行電壓翻轉(zhuǎn)實(shí)時(shí)檢測(cè)，當(dāng)檢測(cè)到電壓翻轉(zhuǎn)時(shí)，快速觸發(fā)FPGA切換至高速低精度采樣回路，從而保證能快速響應(yīng)翻轉(zhuǎn)點(diǎn)的測(cè)試。