一種解決晶圓測(cè)試中共襯底的情況下不能多site并測(cè)的方法
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202011081499.5 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(kāi)(公告)號(hào) | CN112201588B | 公開(kāi)(公告)日 | 2021-08-17 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN112201588B | 申請(qǐng)公布日 | 2021-08-17 |
分類(lèi)號(hào) | H01L21/66(2006.01)I | 分類(lèi) | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 嚴(yán)六平 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人 | 南京宏泰半導(dǎo)體科技股份有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 南京北辰聯(lián)和知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 王真 |
地址 | 210000江蘇省南京市浦口區(qū)浦濱大道320號(hào)科創(chuàng)廣場(chǎng)科創(chuàng)總部大廈B座24樓 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開(kāi)了一種解決晶圓測(cè)試中共襯底的情況下不能多site并測(cè)的方法,涉及半導(dǎo)體測(cè)試應(yīng)用技術(shù)領(lǐng)域;本發(fā)明在對(duì)不會(huì)產(chǎn)生影響的項(xiàng)目進(jìn)行測(cè)試時(shí),維持原先的多site并測(cè)方法;隨后進(jìn)入有影響的測(cè)試項(xiàng)目,從一個(gè)起始電平開(kāi)始進(jìn)行掃描cell狀態(tài)翻轉(zhuǎn)點(diǎn),判斷目前的掃描電平和起始電平的電壓差是否已大于狀態(tài)翻轉(zhuǎn)造成的最大電壓抖動(dòng)值;如果已經(jīng)大于最大電壓抖動(dòng)值,則開(kāi)始啟動(dòng)下一個(gè)site的掃描工作;否則就判斷當(dāng)前cell的狀態(tài)是否已經(jīng)翻轉(zhuǎn),如果已經(jīng)翻轉(zhuǎn)則記錄下此時(shí)的翻轉(zhuǎn)電平,并停止此cell的掃描;如果cell未狀態(tài)翻轉(zhuǎn),增加一個(gè)步長(zhǎng)的掃描電壓,進(jìn)行下一輪的掃描;在后面的測(cè)試項(xiàng)目中,繼續(xù)維持原先的多site并測(cè)方法,完成整個(gè)測(cè)試項(xiàng)目。 |
