商標進度

商標申請
2019-08-30

初審公告
2020-07-27

已注冊
2020-10-28
終止
2030-10-27
商標詳情
商標 |
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M
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商標名稱 | MACRTEST | 商標狀態(tài) | 商標已注冊 |
申請日期 | 2019-08-30 | 申請/注冊號 | 40715452 |
國際分類 | 09類-科學儀器 | 是否共有商標 | 否 |
申請人名稱(中文) | 南京宏泰半導體科技股份有限公司 | 申請人名稱(英文) | - |
申請人地址(中文) | 江蘇省南京市浦口區(qū)蘭花路19號江蘇可成科技產(chǎn)業(yè)園南園26號樓2層 | 申請人地址(英文) | - |
商標類型 | 商標注冊申請---受理通知書發(fā)文 | 商標形式 | - |
初審公告期號 | 1705 | 初審公告日期 | 2020-07-27 |
注冊公告期號 | 40715452 | 注冊公告日期 | 2020-10-28 |
優(yōu)先權日期 | - | 代理/辦理機構 | 超凡知識產(chǎn)權服務股份有限公司 |
國際注冊日 | - | 后期指定日期 | - |
專用權期限 | 2020-10-28-2030-10-27 | ||
商標公告 | - | ||
商品/服務 |
半導體(0913)
半導體測試設備(0910)
半導體器件(0913)
測量器械和儀器(0910)
測量裝置(0910)
電子集成電路(0913)
集成電路(0913)
精密測量儀器(0910)
物理學設備和儀器(0910)
芯片(集成電路)(0913)
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商標流程 |
2019-09-17
商標注冊申請---受理通知書發(fā)文 |
