商標進度
商標申請
2010-05-11
初審公告
2011-06-27
已注冊
2011-09-28
4
終止
2031-09-27
商標詳情
| 商標 |
M
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| 商標名稱 | MACROTEST SEMICONDUCTOR | 商標狀態(tài) | 商標已注冊 |
| 申請日期 | 2010-05-11 | 申請/注冊號 | 8286084 |
| 國際分類 | 09類-科學儀器 | 是否共有商標 | 否 |
| 申請人名稱（中文） | 南京宏泰半導體科技股份有限公司 | 申請人名稱（英文） | - |
| 申請人地址（中文） | 江蘇省南京市浦口區(qū)蘭花路19號江蘇可成科技產業(yè)園南園26號樓2層 | 申請人地址（英文） | - |
| 商標類型 | 更正商標申請/注冊事項---打印改錯后的注冊證 | 商標形式 | - |
| 初審公告期號 | 1269 | 初審公告日期 | 2011-06-27 |
| 注冊公告期號 | 8286084 | 注冊公告日期 | 2011-09-28 |
| 優(yōu)先權日期 | - | 代理/辦理機構 | 北京中博世達專利商標代理有限公司 |
| 國際注冊日 | - | 后期指定日期 | - |
| 專用權期限 | 2021-09-28-2031-09-27 | ||
| 商標公告 | - | ||
| 商品/服務 |
物理學設備和儀器(0910)
教學儀器(0910)
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| 商標流程 |
2010-05-11
商標注冊申請---申請收文
2010-05-17
商標注冊申請---打印受理通知
2011-03-28
商標注冊申請---打印駁回通知
2011-09-02
更正商標申請/注冊事項---申請收文
2011-10-17
商標注冊申請---打印注冊證
2012-01-10
更正商標申請/注冊事項---打印改錯后的注冊證 |
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