紫外線測量方法、計(jì)算設(shè)備及存儲介質(zhì)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110827037.1 申請日 -
公開（公告）號 CN113655013A 公開（公告）日 2021-11-16
申請公布號 CN113655013A 申請公布日 2021-11-16
分類號 G01N21/33（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 常保延;沈凱;熊東;張連峰;周鈺 申請（專利權(quán)）人 無錫華兆泓光電科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳中一聯(lián)合知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 梁立耀
地址 214000江蘇省無錫市無錫國家高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)開發(fā)區(qū)B22-A地塊（錫梅路43號A1棟二樓廠房）
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請適用于測量技術(shù)領(lǐng)域，提供一種紫外線測量方法、計(jì)算設(shè)備及存儲介質(zhì)，所述方法包括：測量水溶液中的化學(xué)曝光劑受紫外線照射之前的第一吸光度；在紫外發(fā)光二極管的發(fā)光面朝向所述水溶液時，控制所述紫外發(fā)光二極管發(fā)出紫外線照射所述水溶液；測量所述化學(xué)曝光劑受所述紫外發(fā)光二極管發(fā)出的紫外線照射之后的第二吸光度；根據(jù)所述第一吸光度和所述第二吸光度，獲取所述紫外發(fā)光二極管的紫外線輸出量。本申請的實(shí)施例能利用化學(xué)曝光劑測量紫外發(fā)光二極管的紫外線輸出量，無需進(jìn)行上級朔源。