RTK傾斜測量精度檢測方法和系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201811589079.0 申請日 -
公開（公告）號 CN109696153B 公開（公告）日 2021-09-14
申請公布號 CN109696153B 申請公布日 2021-09-14
分類號 G01C9/00;G01S19/43 分類 測量；測試;
發(fā)明人 陳源軍;厲寬寬;周學(xué)文;李成鋼;李家吉 申請（專利權(quán)）人 廣州市中海達(dá)測繪儀器有限公司
代理機(jī)構(gòu) 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 代理人 湯金燕
地址 511400 廣東省廣州市番禺區(qū)東環(huán)街番禺大道北555號天安總部中心13號樓202房
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種RTK傾斜測量精度檢測方法和系統(tǒng)、計(jì)算機(jī)設(shè)備、計(jì)算機(jī)存儲介質(zhì)。上述RTK傾斜測量精度檢測方法包括：獲取針對測量目標(biāo)點(diǎn)進(jìn)行RTK傾斜測量所獲得的RTK傾斜測量數(shù)據(jù)；根據(jù)RTK傾斜測量數(shù)據(jù)構(gòu)建距離后方交會平差模型，根據(jù)距離后方交會平差模型確定設(shè)計(jì)矩陣、先驗(yàn)方差陣和觀測值?計(jì)算值向量；距離后方交會平差模型為表征大地坐標(biāo)坐標(biāo)序列殘差數(shù)據(jù)和方差數(shù)據(jù)的模型；根據(jù)先驗(yàn)方差陣和觀測值?計(jì)算值向量計(jì)算測量目標(biāo)點(diǎn)的位置精度，根據(jù)設(shè)計(jì)矩陣計(jì)算幾何精度因子，根據(jù)所述位置精度和幾何精度因子檢測所述測量目標(biāo)點(diǎn)估算坐標(biāo)的精度。本發(fā)明在保證高精度RTK傾斜測量數(shù)據(jù)提取穩(wěn)定性的基礎(chǔ)上，減小了獲取高精度測量目標(biāo)點(diǎn)估算坐標(biāo)的成本。