一種新型熔點(diǎn)滑點(diǎn)儀及其校正測(cè)量方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202010393431.4 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN111398334A 公開（公告）日 2020-07-10
申請(qǐng)公布號(hào) CN111398334A 申請(qǐng)公布日 2020-07-10
分類號(hào) G01N25/04(2006.01)I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 史瓊;陳若雷;朱中華 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 上海儀電物理光學(xué)儀器有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海九澤律師事務(wù)所 代理人 上海儀電物理光學(xué)儀器有限公司
地址 201613上海市徐匯區(qū)徐塘路88號(hào)7幢1-3層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種新型熔點(diǎn)滑點(diǎn)儀及其校正測(cè)量方法，用標(biāo)準(zhǔn)樣品(對(duì)硝基甲苯(52.56℃)、偶氮苯(68.78℃)、萘(81.0℃))來校正儀器熔點(diǎn)(滑點(diǎn))的精度，利用圖像分析的優(yōu)勢(shì)，同時(shí)兼顧了試樣熔點(diǎn)和動(dòng)植物滑點(diǎn)的測(cè)試。