一種多徑環(huán)境下RFID標簽性能測試裝置
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN202020233893.5 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN211955691U | 公開（公告）日 | 2020-11-17 |
| 申請公布號 | CN211955691U | 申請公布日 | 2020-11-17 |
| 分類號 | G01R31/00(2006.01)I | 分類 | 測量；測試; |
| 發(fā)明人 | 黃鈺;蒙秀耀;章學周;胡冶;李遠朝;金瑋;邵暉 | 申請（專利權(quán)）人 | 上海聚星儀器有限公司 |
| 代理機構(gòu) | 上海正旦專利代理有限公司 | 代理人 | 上海聚星儀器有限公司;江蘇省質(zhì)量和標準化研究院 |
| 地址 | 201203上海市浦東新區(qū)張東路1387號（張江集電港二期）10幢02號3樓 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本實用新型涉及一種多徑環(huán)境下RFID標簽性能測試裝置，由接收天線、射頻接收器、測量與應答處理器、多徑模擬器、射頻發(fā)射器、發(fā)射天線和標簽組成，接收天線輸入端接收標簽反射無線電波，輸出端通過饋線連接射頻接收器輸入端，射頻接收器輸出端連接測量與應答處理器輸入端，測量與應答處理器輸出端連接多徑模擬器輸入端，多徑模擬器輸出端連接射頻發(fā)射器輸入端，射頻發(fā)射器輸出端連接發(fā)射天線輸入端，發(fā)射天線輸出端連接標簽輸入端。本實用新型解決了傳統(tǒng)RFID標簽性能測試儀器無法分析標簽在多徑環(huán)境下的通信性能的問題，該實用新型可用于協(xié)助研究RFID標簽的抗干擾技術。該實用新型由模塊化儀器構(gòu)成，系統(tǒng)的升級更換與維修非常方便。?? |
