一種半導(dǎo)體測(cè)試中用于唯一碼校驗(yàn)的方法及系統(tǒng)
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202110659511.4 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN113434570A | 公開(公告)日 | 2021-09-24 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN113434570A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-09-24 |
分類號(hào) | G06F16/2458(2019.01)I;G06F16/28(2019.01)I;G06F16/22(2019.01)I;G01R31/28(2006.01)I;G08B21/18(2006.01)I | 分類 | 計(jì)算;推算;計(jì)數(shù); |
發(fā)明人 | 蘇廣峰;姜偉偉 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 安測(cè)半導(dǎo)體技術(shù)(江蘇)有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京文苑專利代理有限公司 | 代理人 | 于利曉 |
地址 | 225000江蘇省揚(yáng)州市高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)開發(fā)區(qū)南區(qū)創(chuàng)富工廠1號(hào)樓1-5層 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明提供了一種半導(dǎo)體測(cè)試中用于唯一碼校驗(yàn)的方法及系統(tǒng),該方法包括:多臺(tái)測(cè)試機(jī)均運(yùn)行測(cè)試程序,對(duì)芯片進(jìn)行測(cè)試;每臺(tái)測(cè)試機(jī)的測(cè)試程序在測(cè)試過程中,將每一個(gè)唯一碼均發(fā)送給服務(wù)器;服務(wù)器接收唯一碼,將接收的唯一碼存入數(shù)據(jù)庫(kù),通過數(shù)據(jù)庫(kù)校驗(yàn)唯一碼的唯一性;當(dāng)唯一碼有重復(fù)時(shí),發(fā)出報(bào)警信息。本申請(qǐng)?zhí)岣吡宋ㄒ淮a校驗(yàn)的效率,節(jié)省了大量測(cè)試時(shí)間,提升了芯片測(cè)試效率。 |
