一種半導(dǎo)體測試方法及裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110837437.0 申請日 -
公開（公告）號 CN113484731A 公開（公告）日 2021-10-08
申請公布號 CN113484731A 申請公布日 2021-10-08
分類號 G01R31/28（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 蘇廣峰;姜偉偉 申請（專利權(quán)）人 安測半導(dǎo)體技術(shù)（江蘇）有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京文苑專利代理有限公司 代理人 于利曉
地址 225000江蘇省揚(yáng)州市高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)開發(fā)區(qū)南區(qū)創(chuàng)富工廠1號樓1-5層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種半導(dǎo)體測試方法及裝置，該方法包括：采集芯片當(dāng)前多點(diǎn)位頻率值信息；將多點(diǎn)位頻率值信息傳遞給外部運(yùn)算服務(wù)；外部運(yùn)算服務(wù)執(zhí)行復(fù)雜矩陣運(yùn)算，得到符合條件的補(bǔ)償系數(shù)；外部運(yùn)算服務(wù)返回符合條件的補(bǔ)償系數(shù)給測試程序；測試程序?qū)⒎蠗l件的補(bǔ)償系數(shù)燒錄進(jìn)芯片NVM存儲區(qū)；再次采集芯片多點(diǎn)位頻率值信息，確認(rèn)補(bǔ)償結(jié)果。本申請將復(fù)雜矩陣算法從原有測試程序剝離，擺脫了原測試程序的軟硬件限制。本申請縮短了軟件開發(fā)的時(shí)間，降低了開發(fā)的難度，提高了芯片測試的效率和正確性。