一種集成電路測試數(shù)據(jù)分析方法及系統(tǒng)
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN202011328711.3 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN112346920A | 公開（公告）日 | 2021-02-09 |
| 申請公布號 | CN112346920A | 申請公布日 | 2021-02-09 |
| 分類號 | G06F11/22(2006.01)I | 分類 | 計算；推算；計數(shù); |
| 發(fā)明人 | 蘇廣峰;姜偉偉 | 申請（專利權(quán)）人 | 安測半導(dǎo)體技術(shù)（江蘇）有限公司 |
| 代理機構(gòu) | 北京文苑專利代理有限公司 | 代理人 | 周會 |
| 地址 | 225000江蘇省揚州市高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)開發(fā)區(qū)南區(qū)創(chuàng)富工廠1號樓1-5層 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明提供了一種集成電路測試數(shù)據(jù)分析方法及系統(tǒng)，該方法包括：測試機解析被測試的第一集成電路的第一測試數(shù)據(jù)，并發(fā)送給分析數(shù)據(jù)庫；分析數(shù)據(jù)庫接收、存儲第一測試數(shù)據(jù)；分析設(shè)備從分析數(shù)據(jù)庫中抓取第一測試數(shù)據(jù)，計算第一集成電路的性能參數(shù)；分析設(shè)備從分析數(shù)據(jù)庫中抓取基準測試數(shù)據(jù)，計算基準性能參數(shù)，基準測試數(shù)據(jù)為第一測試數(shù)據(jù)之前的m批測試數(shù)據(jù)，m批測試數(shù)據(jù)依次相鄰，且m批測試數(shù)據(jù)中有一批測試數(shù)據(jù)與第一測試數(shù)據(jù)相鄰，m為正整數(shù)；分析設(shè)備根據(jù)被測試的第一集成電路的性能參數(shù)、基準性能參數(shù)確定第一集成電路是否為良品。本申請實現(xiàn)了對關(guān)鍵指標(良率，BIN別等)的動態(tài)分析，提高了芯片測試的準確度和效率。?? |
