一種芯片測試監(jiān)控方法及服務(wù)器
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN202010721249.7 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN111880079A | 公開（公告）日 | 2020-11-03 |
| 申請公布號 | CN111880079A | 申請公布日 | 2020-11-03 |
| 分類號 | G01R31/28(2006.01)I;G06F16/23(2019.01)I | 分類 | 測量；測試; |
| 發(fā)明人 | 姜偉偉 | 申請（專利權(quán)）人 | 安測半導(dǎo)體技術(shù)（江蘇）有限公司 |
| 代理機構(gòu) | 北京文苑專利代理有限公司 | 代理人 | 安測半導(dǎo)體技術(shù)（江蘇）有限公司 |
| 地址 | 225000江蘇省揚州市高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)開發(fā)區(qū)南區(qū)創(chuàng)富工廠1號樓1-5層 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明提供了一種芯片測試監(jiān)控方法及服務(wù)器，該方法包括：服務(wù)器逐臺掃描芯片測試機；服務(wù)器查詢數(shù)據(jù)庫，獲取當(dāng)前測試數(shù)據(jù)以及當(dāng)前測試產(chǎn)品型號，數(shù)據(jù)庫中存儲有測試機實時發(fā)送給數(shù)據(jù)庫的測試數(shù)據(jù)；服務(wù)器查詢產(chǎn)品數(shù)據(jù)庫，獲取當(dāng)前測試產(chǎn)品的卡關(guān)條件及標(biāo)準(zhǔn)；比對當(dāng)前測試數(shù)據(jù)與卡關(guān)條件及標(biāo)準(zhǔn)，如果超標(biāo)，則觸發(fā)報警機制。本申請對芯片測試過程中產(chǎn)生的測試數(shù)據(jù)實時監(jiān)控分析，一旦發(fā)現(xiàn)超標(biāo)則觸發(fā)立即報警事件，對測試機立即停機，避免大量的異常測試造成芯片批量報廢。?? |
