一種半導(dǎo)體測(cè)試程序閾值更新的方法及系統(tǒng)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202110770207.7 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN113407219A 公開（公告）日 2021-09-17
申請(qǐng)公布號(hào) CN113407219A 申請(qǐng)公布日 2021-09-17
分類號(hào) G06F8/65（2018.01）I;G01R31/28（2006.01）I 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 蘇廣峰;姜偉偉 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 安測(cè)半導(dǎo)體技術(shù)（江蘇）有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京文苑專利代理有限公司 代理人 于利曉
地址 225000江蘇省揚(yáng)州市高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)開發(fā)區(qū)南區(qū)創(chuàng)富工廠1號(hào)樓1-5層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種半導(dǎo)體測(cè)試程序閾值更新的方法及系統(tǒng)，該方法包括：測(cè)試機(jī)對(duì)芯片進(jìn)行測(cè)試，解析測(cè)試數(shù)據(jù)，將解析后的測(cè)試數(shù)據(jù)上傳給服務(wù)器；服務(wù)器接收解析后的測(cè)試數(shù)據(jù)，將接收的測(cè)試數(shù)據(jù)保存到服務(wù)器的數(shù)據(jù)庫中；根據(jù)取樣參數(shù)從數(shù)據(jù)庫中提取樣本值，根據(jù)樣本值得到第一動(dòng)態(tài)閾值和第二動(dòng)態(tài)閾值；獲取第一動(dòng)態(tài)閾值和第二動(dòng)態(tài)閾值；將芯片測(cè)試的量測(cè)值與第一動(dòng)態(tài)閾值和第二動(dòng)態(tài)閾值進(jìn)行比較，判斷芯片為良品還是不良品。本申請(qǐng)為車規(guī)/軍工等大量需求高可靠性芯片的測(cè)試提供解決方案，提高了測(cè)試效率以及測(cè)試的便利性，大大降低了不良品率。