一種基于IC鍵合引線的質量檢測裝置及方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201910193313.6 申請日 -
公開（公告）號 CN109975687A 公開（公告）日 2019-07-05
申請公布號 CN109975687A 申請公布日 2019-07-05
分類號 G01R31/28（2006.01）I; G01R31/02（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 梁付根; 李寶平; 朱紹德; 高云峰 申請（專利權）人 深圳市大族封測科技股份有限公司
代理機構 深圳市恒申知識產權事務所（普通合伙） 代理人 大族激光科技產業(yè)集團股份有限公司; 深圳市大族光電設備有限公司
地址 518000 廣東省深圳市南山區(qū)深南大道9988號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明適用于半導體封裝工業(yè)技術領域，提供了一種基于IC鍵合引線的質量檢測裝置，包括主控模塊、頻率發(fā)生模塊、第一數(shù)據(jù)轉換模塊、放線模塊、有效值轉換模塊和第二數(shù)據(jù)轉換模塊；主控模塊、頻率發(fā)生模塊、第一數(shù)據(jù)轉換模塊、放線模塊、有效值轉換模塊和第二數(shù)據(jù)轉換模塊依次首尾連接，主控模塊還與第一數(shù)據(jù)轉換模塊連接；其中，放線模塊的一端與有效值轉換模塊通過引線線路連接，放線模塊的另一端與IC的電極連接，形成檢測閉合回路。通過本發(fā)明能夠實時監(jiān)控IC每條線路的焊接過程，避免IC中有引線失敗導致IC功能失效的問題，與直流檢測相比還提升了檢測準確性、降低了電路的功耗。