基于層理發(fā)育儲(chǔ)層的約束濾波校正電阻率的方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202110219342.2 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN112882112A 公開（公告）日 2021-06-01
申請(qǐng)公布號(hào) CN112882112A 申請(qǐng)公布日 2021-06-01
分類號(hào) G01V3/18;G01V3/38 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 廖勇;曾芙蓉;李光泉;田海濤;陳四平;馮愛國;蔣恕;饒海濤;沈金才;何浩然;石文睿;張新華;季運(yùn)景;曾保林;石元會(huì);陳國輝;汪鈺波;葉鑫 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 中石化江漢石油工程有限公司測(cè)錄井公司
代理機(jī)構(gòu) 武漢開元知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 涂潔
地址 100728 北京市朝陽區(qū)朝陽門北大街22號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種基于層理發(fā)育儲(chǔ)層的約束濾波校正電阻率的方法，解決了現(xiàn)有層理發(fā)育儲(chǔ)層的電阻率往往呈現(xiàn)低阻尖峰狀，嚴(yán)重影響西門杜公式計(jì)算含水飽和度的精度。方法包括1）獲取待計(jì)算井層理發(fā)育儲(chǔ)層段的測(cè)井資料；2）計(jì)算濾波偏移系數(shù)RTFO；3）得到校正后的電阻率RTT和4）輸出計(jì)算結(jié)果。本發(fā)明方法能夠有效校正層理發(fā)育儲(chǔ)層的電阻率，為層理發(fā)育儲(chǔ)層的含水飽和度精細(xì)計(jì)算提供關(guān)鍵參數(shù)，操作簡(jiǎn)便、適用范圍廣。