芯片亮度值測試的方法及系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010098120.5 申請日 -
公開（公告）號 CN111293050A 公開（公告）日 2020-06-16
申請公布號 CN111293050A 申請公布日 2020-06-16
分類號 H01L21/66(2006.01)I;H01L23/544(2006.01)I 分類 -
發(fā)明人 盧校;張海旭;林肖;王亞洲 申請（專利權）人 映瑞光電科技（上海）有限公司
代理機構 廣州華進聯(lián)合專利商標代理有限公司 代理人 映瑞光電科技（上海）有限公司
地址 200135上海市浦東新區(qū)泥城鎮(zhèn)鴻音路1889號2樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種芯片亮度值測試的方法及系統(tǒng)。該方法包括：分別B個芯片在第一圓片和方片上的亮度得到第一組亮度值和第二組亮度值；根據(jù)第二組亮度值和第一組亮度值中各個芯片對應的測試值的比值得到測試差值；對第一組亮度值和測試差值進行二次擬合獲取芯片在第一圓片上的亮度值和測試差值之間的第一曲線；根據(jù)第一曲線和方片上的芯片M在圓片上的第一亮度值獲取方片上的芯片M的第二亮度值；方片上排列的芯片的結構相同且相鄰芯片之間的間距相同，圓片上芯片的結構和排布與第一圓片相同。通過第一曲線和芯片在圓片上亮度值獲得芯片放置在方片上的亮度值后將圓片上的芯片貼在不同方片上，消除了圓片與方片上芯片之間的距離差異芯片亮度值的影響。??