一種自我校準(zhǔn)的電力電子器件溫度系數(shù)校準(zhǔn)方法
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202011023689.1 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN112162186A | 公開（公告）日 | 2021-01-01 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN112162186A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-01-01 |
| 分類號(hào) | G01R31/26(2014.01)I;G01R35/00(2006.01)I | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 鄧二平;陳杰;趙雨山;王延浩;黃永章 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 華電（煙臺(tái)）功率半導(dǎo)體技術(shù)研究院有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 煙臺(tái)智宇知識(shí)產(chǎn)權(quán)事務(wù)所（特殊普通合伙） | 代理人 | 華電（煙臺(tái)）功率半導(dǎo)體技術(shù)研究院有限公司 |
| 地址 | 264006山東省煙臺(tái)市開發(fā)區(qū)香港路16號(hào)華日工業(yè)園2號(hào)樓101號(hào) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明涉及電力電子器件技術(shù)領(lǐng)域，具體是一種自我校準(zhǔn)的電力電子器件溫度系數(shù)校準(zhǔn)方法，不需要通過外部加熱使得整個(gè)器件處于一個(gè)溫度狀態(tài)，然后測(cè)量殼溫等效結(jié)溫，而是采用多電流測(cè)量進(jìn)行反推結(jié)溫，最后建立溫度系數(shù)校準(zhǔn)方法，該校準(zhǔn)方法基于小電流下PN結(jié)壓降法的理論基礎(chǔ)，因此只適用于小電流下PN結(jié)壓降結(jié)溫測(cè)量法的校準(zhǔn)，但適用于一切可以應(yīng)用該結(jié)溫測(cè)量法的電力電子器件，例如二極管、MOSFET和IGBT等，可以得到較為精確的溫度系數(shù)校準(zhǔn)曲線，提高了結(jié)溫測(cè)量的精度。?? |
