地層成巖階段確定方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202111119781.2 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(kāi)(公告)號(hào) | CN113933331A | 公開(kāi)(公告)日 | 2022-01-14 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN113933331A | 申請(qǐng)公布日 | 2022-01-14 |
分類號(hào) | G01N23/2251(2018.01)I;G01N23/2202(2018.01)I;G01N23/203(2006.01)I;G01N23/20008(2018.01)I | 分類 | 測(cè)量;測(cè)試; |
發(fā)明人 | 董虎;吳國(guó)強(qiáng);馬克;蘇睿;李龍生 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 數(shù)巖科技股份有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京派特恩知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 李強(qiáng);張穎玲 |
地址 | 100094北京市海淀區(qū)永豐產(chǎn)業(yè)基地豐秀中路3號(hào)院3號(hào)樓 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明實(shí)施例公開(kāi)了一種地層成巖階段確定方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì),方法包括:獲取待分析的電鏡薄片的第一圖像和第二圖像;第一圖像和第二圖像為不同分辨率的掃描電鏡圖像;運(yùn)用第一處理方法分析第一圖像,得到地層總體的礦物分布特征;運(yùn)用第二處理方法獲得針對(duì)電鏡薄片的礦物定量特征;基于礦物分布特征和礦物定量特征,確定第一處理結(jié)果;第一處理結(jié)果包括:總體礦物類型、礦物含量分布、礦物接觸關(guān)系;運(yùn)用第三處理方法分析第二圖像,得到第二處理結(jié)果;第二處理結(jié)果包括:自生礦物類型、自生礦物含量分布、自生礦物接觸關(guān)系、成巖作用環(huán)境、礦物成因類型;第一處理結(jié)果和第二處理結(jié)果,用于確定地層成巖階段。 |
