一種基于碲鋅鎘探測器陣列的中子源位置測量裝置及測量方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202011154147.8 申請(qǐng)日 -
公開(公告)號(hào) CN112526583A 公開(公告)日 2021-03-19
申請(qǐng)公布號(hào) CN112526583A 申請(qǐng)公布日 2021-03-19
分類號(hào) G01T3/00(2006.01)I;G01T1/36(2006.01)I 分類 測量;測試;
發(fā)明人 黑大千;孫愛赟;求夢(mèng)程;趙冬 申請(qǐng)(專利權(quán))人 南京即衡科技發(fā)展有限公司
代理機(jī)構(gòu) 南京鐘山專利代理有限公司 代理人 戴朝榮
地址 211800江蘇省南京市江北新區(qū)研創(chuàng)園團(tuán)結(jié)路99號(hào)孵鷹大廈941室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種基于碲鋅鎘探測器陣列的中子源位置測量裝置,包括探測器本體,探測器本體最外層為中子非彈散射材料層,探測器本體幾何中心處設(shè)置伽馬射線探測器;伽馬射線探測器與中子非彈散射材料層之間設(shè)置有若干層中子慢化體和若干層中子俘獲材料,中子慢化體與中子俘獲材料隔層交錯(cuò);中子慢化體內(nèi)設(shè)置有若干個(gè)呈陣列分布的碲鋅鎘探測器;碲鋅鎘探測器與信號(hào)放大器、模數(shù)轉(zhuǎn)換器、多道分析器和電腦依次連接;本發(fā)明還提供一種基于碲鋅鎘探測器陣列的中子源位置測量裝置的測量方法。本發(fā)明利用不同入射方向的中子在不同位置的碲鋅鎘探測器能譜響應(yīng)函數(shù)不同,根據(jù)能譜解析之后的差異判斷中子入射方向,實(shí)現(xiàn)了4π方向中子入射測量的一致性與準(zhǔn)確性。??