高溫老化測試系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201610137595.4 申請日 -
公開（公告）號 CN105807157A 公開（公告）日 2016-07-27
申請公布號 CN105807157A 申請公布日 2016-07-27
分類號 G01R31/00(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 歐永明;吳大畏;李曉強(qiáng) 申請（專利權(quán)）人 綿存（浙江）科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳市世紀(jì)恒程知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 代理人 深圳市硅格半導(dǎo)體股份有限公司;深圳市硅格半導(dǎo)體有限公司
地址 314200 浙江省嘉興市平湖市曹橋街道勤安路198號研發(fā)大樓1201室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開一種高溫老化測試系統(tǒng)，所述高溫老化測試系統(tǒng)包括存儲設(shè)備、高溫箱，還包括供電板、控制電路；所述存儲設(shè)備，用于存儲寫入的老化測試程序，以及在上電后自動執(zhí)行所述老化測試程序；所述供電板，用于對連接其上的所述存儲設(shè)備進(jìn)行供電；所述高溫箱，用于對放置在其內(nèi)部且連接在所述供電板上的所述存儲設(shè)備進(jìn)行加熱，以提供高溫環(huán)境；所述控制電路，用于控制對所述供電板的供電。本發(fā)明實(shí)現(xiàn)了在高溫老化測試中降低對資源的占用。