高溫老化測(cè)試系統(tǒng)
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201610137595.4 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN105807157B | 公開(kāi)（公告）日 | 2016-07-27 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN105807157B | 申請(qǐng)公布日 | 2016-07-27 |
| 分類(lèi)號(hào) | G01R31/00(2006.01)I | 分類(lèi) | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 歐永明;吳大畏;李曉強(qiáng) | 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人 | 綿存（浙江）科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 深圳市世紀(jì)恒程知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 | 代理人 | 深圳市硅格半導(dǎo)體有限公司 |
| 地址 | 314200 浙江省嘉興市平湖市曹橋街道勤安路198號(hào)研發(fā)大樓1201室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明公開(kāi)一種高溫老化測(cè)試系統(tǒng)，所述高溫老化測(cè)試系統(tǒng)包括存儲(chǔ)設(shè)備、高溫箱，還包括供電板、控制電路；所述存儲(chǔ)設(shè)備，用于存儲(chǔ)寫(xiě)入的老化測(cè)試程序，以及在上電后自動(dòng)執(zhí)行所述老化測(cè)試程序；所述供電板，用于對(duì)連接其上的所述存儲(chǔ)設(shè)備進(jìn)行供電；所述高溫箱，用于對(duì)放置在其內(nèi)部且連接在所述供電板上的所述存儲(chǔ)設(shè)備進(jìn)行加熱，以提供高溫環(huán)境；所述控制電路，用于控制對(duì)所述供電板的供電。本發(fā)明實(shí)現(xiàn)了在高溫老化測(cè)試中降低對(duì)資源的占用。?? |
