一種改善硅片表面粗糙度的拋光工藝
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202111389663.3 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN114055256A | 公開(公告)日 | 2022-02-18 |
申請公布號 | CN114055256A | 申請公布日 | 2022-02-18 |
分類號 | B24B1/00(2006.01)I;B24B29/02(2006.01)I;B24B57/02(2006.01)I;C09G1/04(2006.01)I | 分類 | 磨削;拋光; |
發(fā)明人 | 卞梁;潘連勝;何翠翠 | 申請(專利權(quán))人 | 錦州神工半導(dǎo)體股份有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京易捷勝知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 薛曉萌;齊云 |
地址 | 121000遼寧省錦州市太和區(qū)中信路46號甲 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明涉及本發(fā)明提供一種改善硅片表面粗糙度的拋光工藝,其包括:在精拋結(jié)束后,快速使用表面處理液對硅片表面進(jìn)行處理;所述表面處理液包括:1?3體積份的兩性離子表面活性劑,2?3體積份乙二醇,0.5?2份含有羥基的陰離子表面活性劑,100體積份的超純水。本發(fā)明的表面處理液,用于在硅片精拋結(jié)束后,快速處理硅片,其主要從三個方面降低硅片的Haze值:(1)迅速降低精拋結(jié)束后硅片表面的溫度從而緩和化學(xué)腐蝕;(2)隔離拋光液減緩并最終停止拋光液與硅片表面的化學(xué)腐蝕作用;(3)使拋光過程中產(chǎn)生的顆粒脫離硅片表面,從而去除表面顆粒,達(dá)到減少對硅片表面劃傷。 |
