一種面板檢測電子信號缺陷判定的方法和系統(tǒng)
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202111462631.1 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113870754B | 公開(公告)日 | 2022-03-11 |
申請公布號 | CN113870754B | 申請公布日 | 2022-03-11 |
分類號 | G09G3/00(2006.01)I;G02F1/13(2006.01)I | 分類 | 教育;密碼術(shù);顯示;廣告;印鑒; |
發(fā)明人 | 查世華;楊義祿;李波;左右祥;關(guān)玉萍;曾磊 | 申請(專利權(quán))人 | 中導(dǎo)光電設(shè)備股份有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 廣州維智林專利代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 趙曉慧 |
地址 | 526238廣東省肇慶市高新區(qū)北江大道20號之一 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種面板檢測電子信號缺陷判定的方法和系統(tǒng),所述方法包括以下步驟:首先檢測時(shí)獲取缺陷大圖像,其次計(jì)算待處理圖像的最小灰度值,初判缺陷類型,然后計(jì)算待處理圖像的直方圖,接著計(jì)算低灰階像素?cái)?shù)目達(dá)到缺陷圖像總像素?cái)?shù)設(shè)定比例時(shí)的最大灰度值,最后根據(jù)最大灰度值和設(shè)定的電子信號缺陷閾值比較判定是否為電子信號缺陷。本發(fā)明的有益效果是:實(shí)時(shí)采集圖像,針對檢測出來的缺陷實(shí)時(shí)進(jìn)行判斷。其次,根據(jù)應(yīng)用過程中測得電子信號為低頻信號,以此為根據(jù)設(shè)定電子信號缺陷閾值為低閾值。第三,簡化電子信號缺陷判定的流程。第四,對電子信號缺陷與其他缺陷混合在一起具有較好的區(qū)分度。進(jìn)一步擴(kuò)展應(yīng)用,可以用于缺陷的分類等。 |
