一種基于紋理特征的液晶面板外圍電路檢測方法和系統(tǒng)
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202111404638.8 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113822893B | 公開(公告)日 | 2022-03-11 |
申請公布號 | CN113822893B | 申請公布日 | 2022-03-11 |
分類號 | G06T7/00(2017.01)I;G06T5/00(2006.01)I;G06V10/25(2022.01)I;G06V10/44(2022.01)I;G06V10/764(2022.01)I;G06K9/62(2022.01)I | 分類 | 計算;推算;計數(shù); |
發(fā)明人 | 關(guān)玉萍;楊義祿;左右祥;查世華;李波;曾磊 | 申請(專利權(quán))人 | 中導(dǎo)光電設(shè)備股份有限公司 |
代理機構(gòu) | 廣州維智林專利代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 趙曉慧 |
地址 | 526238廣東省肇慶市高新區(qū)北江大道20號之一 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種基于紋理特征的液晶面板外圍電路檢測方法,包括:獲取待檢測樣本圖像;對待檢測樣本圖像進行預(yù)處理,包括:根據(jù)輸入的區(qū)域標定信息,獲取需要檢測的感興趣區(qū)域圖像,對獲取到的感興趣區(qū)域圖像做濾波處理,去除圖像中的噪聲,得到參考圖像,將參考圖像和待檢測樣本圖像做坐標對位;將預(yù)處理后的待檢測樣本圖像做灰度等級化處理,得到灰度等級化矩陣;根據(jù)灰度等級化矩陣提取方向紋理特征矩陣,并計算特征向量;計算每個檢測點的特征向量與參考數(shù)據(jù)的特征向量的距離,參考數(shù)據(jù)為參考圖像中與檢測點對應(yīng)的參考點;通過距離判斷當前檢測點是否異常。本發(fā)明基于紋理特征進行異常性檢測,可以有效抗光照、膜色差異,具有較好穩(wěn)定性。 |
