一種快恢復(fù)二極管FRD芯片及其生產(chǎn)工藝
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201010581246.4 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(kāi)(公告)號(hào) | CN102087976A | 公開(kāi)(公告)日 | 2011-06-08 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN102087976A | 申請(qǐng)公布日 | 2011-06-08 |
分類號(hào) | H01L21/329(2006.01)I;H01L21/306(2006.01)I;H01L21/22(2006.01)I;H01L29/861(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 初亞?wèn)|;劉長(zhǎng)蔚;王軍明;梁效峰;牛寶鋼;薄勇;崔俊發(fā);邵楓 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | TCL科技集團(tuán)(天津)有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 天津中環(huán)專利商標(biāo)代理有限公司 | 代理人 | 天津中環(huán)半導(dǎo)體股份有限公司 |
地址 | 300384 天津市南開(kāi)區(qū)新技術(shù)產(chǎn)業(yè)園區(qū)華苑產(chǎn)業(yè)區(qū)海泰東路12號(hào) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明涉及一種快恢復(fù)二極管(FRD)芯片及其生產(chǎn)工藝,采用擴(kuò)散前處理、液態(tài)源兩次擴(kuò)散、背面減薄、氧化、鉑擴(kuò)散、光刻、臺(tái)面腐蝕、電泳、燒結(jié)、劃片等工藝步驟生產(chǎn)結(jié)構(gòu)為P+NN+的二極管,芯片生產(chǎn)工藝采用攜帶液態(tài)磷源深結(jié)擴(kuò)散的方法,提高了擴(kuò)散結(jié)的平坦度,加強(qiáng)了擊穿電壓的均一性、穩(wěn)定性;采用降低硼擴(kuò)散源濃度、提高硼擴(kuò)散源純度的方法,提高了快恢復(fù)二極管的抗浪涌能力;采用電泳的玻璃鈍化工藝,提高了雙向穩(wěn)壓二極管的耐壓穩(wěn)定性,可靠性;減小了反向恢復(fù)時(shí)間,提高了開(kāi)關(guān)速度,減小了壓降,降低了功耗,提高了耐壓的穩(wěn)定性,增加了二極管的可靠性。 |
