光離子化測量裝置和方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110640121.2 申請日 -
公開（公告）號 CN113189258A 公開（公告）日 2021-07-30
申請公布號 CN113189258A 申請公布日 2021-07-30
分類號 G01N30/64 分類 測量；測試;
發(fā)明人 謝雷;楊雁南;沈飛宙 申請（專利權）人 上海雷密傳感技術有限公司
代理機構 北京超凡宏宇專利代理事務所（特殊普通合伙） 代理人 鐘揚飛
地址 201800 上海市嘉定區(qū)嘉定工業(yè)區(qū)城北路1355號1幢723室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請涉及一種光離子化測量裝置和方法，本申請的光離子化測量裝置包括：電離室、發(fā)光組件、測量室和檢測組件；電離室被配置為能使發(fā)光組件所發(fā)射的光線射入電離腔體內(nèi)，以使電離腔體內(nèi)的待測氣體發(fā)生離子化；測量室具有貫穿測量室的出口孔道，出口孔道和電離腔體相通，以使離子化后的待測氣體流出；檢測組件包括電性連接的收集電極和偏置電極，用于檢測出口孔道內(nèi)離子化后的待測氣體。故本申請具有選擇性，能夠有針對性地對待測氣體進行測量，提高了對待測氣體測量的準確性。