光離子化測(cè)量裝置
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202121278301.2 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(kāi)(公告)號(hào) | CN214794632U | 公開(kāi)(公告)日 | 2021-11-19 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN214794632U | 申請(qǐng)公布日 | 2021-11-19 |
分類號(hào) | G01N30/64(2006.01)I | 分類 | 測(cè)量;測(cè)試; |
發(fā)明人 | 謝雷;楊雁南;沈飛宙 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 上海雷密傳感技術(shù)有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京超凡宏宇專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) | 代理人 | 鐘揚(yáng)飛 |
地址 | 201800上海市嘉定區(qū)嘉定工業(yè)區(qū)城北路1355號(hào)1幢723室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本申請(qǐng)涉及一種光離子化測(cè)量裝置,本申請(qǐng)的光離子化測(cè)量裝置包括:電離室、發(fā)光組件、測(cè)量室和檢測(cè)組件;電離室被配置為能使發(fā)光組件所發(fā)射的光線射入電離腔體內(nèi),以使電離腔體內(nèi)的待測(cè)氣體發(fā)生離子化;測(cè)量室具有貫穿測(cè)量室的出口孔道,出口孔道和電離腔體相通,以使離子化后的待測(cè)氣體流出;檢測(cè)組件包括電性連接的收集電極和偏置電極,用于檢測(cè)出口孔道內(nèi)離子化后的待測(cè)氣體。故本申請(qǐng)具有選擇性,能夠有針對(duì)性地對(duì)待測(cè)氣體進(jìn)行測(cè)量,提高了對(duì)待測(cè)氣體測(cè)量的準(zhǔn)確性。 |
