光離子檢測裝置
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN202110017314.2 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN112834490A | 公開（公告）日 | 2021-05-25 |
| 申請公布號 | CN112834490A | 申請公布日 | 2021-05-25 |
| 分類號 | G01N21/76(2006.01)I | 分類 | 測量；測試; |
| 發(fā)明人 | 謝雷;周孜遠(yuǎn);沈飛宙 | 申請（專利權(quán)）人 | 上海雷密傳感技術(shù)有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京超凡宏宇專利代理事務(wù)所（特殊普通合伙） | 代理人 | 鐘揚飛 |
| 地址 | 201800上海市嘉定區(qū)嘉定工業(yè)區(qū)城北路1355號1幢723室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申請涉及一種光離子檢測裝置，本申請的光離子檢測裝置包括：檢測室、發(fā)光組件、檢測組件以及至少一個保護(hù)件，檢測室具有通光通道以及用于容納待測流體的內(nèi)腔；發(fā)光組件用于發(fā)光，且發(fā)光組件所發(fā)射的光線通過通光通道射入檢測室，用于使待測流體發(fā)生離子化；檢測組件設(shè)于內(nèi)腔內(nèi)，用于檢測離子化后待測流體；保護(hù)件設(shè)于內(nèi)腔內(nèi)，且位于發(fā)光組件與檢測組件之間，用于阻擋照射至檢測組件表面的光線。故本申請通過將在發(fā)光組件與檢測組件之間設(shè)置保護(hù)件，從而可以阻擋照射至檢測組件表面的光線，避免檢測組件因發(fā)光組件所發(fā)的光長期照射而損壞的風(fēng)險，從而能夠延長檢測組件的使用壽命，且提高測量的準(zhǔn)確性。?? |
