顆粒物粒徑譜測量裝置、方法及其分離氣室和光路組件

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011391012.3 申請日 -
公開（公告）號 CN112525781A 公開（公告）日 2021-03-19
申請公布號 CN112525781A 申請公布日 2021-03-19
分類號 G01N15/02(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 高建民;張紅星;張志明;趙超龍;李東光;胥海艷;樊海春;張濤 申請（專利權(quán)）人 天津同陽科技發(fā)展有限公司
代理機(jī)構(gòu) 天津合正知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 李震勇
地址 300000天津市濱海新區(qū)高新區(qū)華苑產(chǎn)業(yè)區(qū)蘭苑路五號A座-702
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種顆粒物粒徑譜測量裝置、方法及其分離氣室和光路組件，分離氣室的氣室內(nèi)腔整體呈扁平長方體；氣室內(nèi)腔的上部左右兩側(cè)分別設(shè)置有極性相反的兩個電極，在兩個電極之間的空間形成一個電場方向與氣室內(nèi)腔高度方向相垂直的穩(wěn)定的電場，且兩個電極之間電場的寬度范圍能覆蓋氣室內(nèi)腔的寬度范圍。本發(fā)明采用先通過電場對顆粒物按照粒徑大小分級，再通過線陣CCD對各粒徑顆粒物進(jìn)行并行測量的方法，提高了粒徑譜測量效率；通過對不同粒徑顆粒物的信號幅度限定范圍，防止信號噪聲產(chǎn)生的顆粒物誤計算；通過先分級后并行測量粒徑的方法以及單像素單元粒子脈沖波形識別方法，可以很容易對疊加的粒子進(jìn)行測量，提高了測量準(zhǔn)確性。??