一種將光學(xué)探頭集成在硅晶圓片上的檢測(cè)系統(tǒng)及其應(yīng)用
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202110843825.X | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN113670207A | 公開(公告)日 | 2021-11-19 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN113670207A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-11-19 |
分類號(hào) | G01B11/02(2006.01)I;G01B11/12(2006.01)I;G01B11/27(2006.01)I | 分類 | 測(cè)量;測(cè)試; |
發(fā)明人 | 夏子奐;徐俊強(qiáng);連超;王桂華 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 上海集迦電子科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | - | 代理人 | - |
地址 | 201206上海市浦東新區(qū)中國(上海)自由貿(mào)易試驗(yàn)區(qū)金港路56號(hào),金滬路278、334號(hào)金橋出口加工區(qū)T4-2幢2-3層?xùn)|側(cè)單元 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種將光學(xué)探頭集成在硅晶圓片上的檢測(cè)系統(tǒng),包括:設(shè)置有檢測(cè)裝置(10)的硅晶圓片(1),在所述硅晶圓片(1)下方設(shè)置并半包覆所述硅晶圓片的聚焦環(huán)(2),設(shè)置在所述聚焦環(huán)(2)下方的靜電吸盤(5),間隔所述硅晶圓片(1)并在所述硅晶圓片(1)上方設(shè)置的淋氣頭(3),所述淋氣頭(3)包括至少兩個(gè)噴淋孔洞(4),所述檢測(cè)裝置(10)包括光學(xué)探頭模塊(6),采集模塊(7),傳輸模塊(8)以及第一供電模塊(9),在工作狀態(tài)下,所述光學(xué)探頭模塊(6)采集拍攝淋氣頭(3)以及聚焦環(huán)(2)的圖像。本發(fā)明結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、使用方便、功能強(qiáng)大,具有極高的商業(yè)價(jià)值。 |
