一種自動(dòng)化測(cè)試方法及裝置、計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201711251367.0 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN108038054B 公開(kāi)（公告）日 2021-08-03
申請(qǐng)公布號(hào) CN108038054B 申請(qǐng)公布日 2021-08-03
分類(lèi)號(hào) G06F11/36（2006.01）I 分類(lèi) 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 劉立黎;尚微;王小文 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人 大唐微電子技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京安信方達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 韓輝峰;李丹
地址 100094北京市海淀區(qū)永嘉北路6號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請(qǐng)公開(kāi)了一種自動(dòng)化測(cè)試方法，包括如下步驟：根據(jù)測(cè)試需求，創(chuàng)建N套測(cè)試參數(shù)組和M個(gè)測(cè)試用例集，所述測(cè)試參數(shù)組包括至少一個(gè)測(cè)試參數(shù)，所述測(cè)試用例集包括至少一個(gè)測(cè)試用例，并將所述N套測(cè)試參數(shù)組和M個(gè)測(cè)試用例集進(jìn)行綁定，其中，N、M均為大于1的自然數(shù)；利用測(cè)試用例集對(duì)應(yīng)的測(cè)試參數(shù)組對(duì)測(cè)試用例集內(nèi)的測(cè)試用例進(jìn)行測(cè)試，并保存所述測(cè)試用例的一個(gè)或一個(gè)以上的測(cè)試結(jié)果。本申請(qǐng)還公開(kāi)了一種自動(dòng)化測(cè)試裝置及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，通過(guò)實(shí)施上述方案，使得自動(dòng)化測(cè)試工具每次自動(dòng)執(zhí)行測(cè)試用例時(shí)能使用多套測(cè)試參數(shù)，進(jìn)而提高了測(cè)試工作的效率。