一種可調(diào)節(jié)測試通道的測試裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202210452359.7 申請日 -
公開（公告）號 CN114545191A 公開（公告）日 2022-05-27
申請公布號 CN114545191A 申請公布日 2022-05-27
分類號 G01R31/26（2014.01）I;H05K7/20（2006.01）I;G01R1/04（2006.01）I;H01L21/66（2006.01）I;H01L33/00（2010.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 吳浩;高海峰;王瑞朋 申請（專利權(quán)）人 深圳市西渥智控科技有限公司
代理機構(gòu) 長沙都創(chuàng)云天知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 -
地址 518000廣東省深圳市龍崗區(qū)龍城街道黃閣坑社區(qū)龍城工業(yè)園留學(xué)人員（龍崗）創(chuàng)業(yè)園332-333室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種可調(diào)節(jié)測試通道的測試裝置，包括機箱、總線背板、主卡以及多個卡槽結(jié)構(gòu)與功能卡，所述總線背板安裝在所述機箱內(nèi)，所述卡槽結(jié)構(gòu)插入所述機箱內(nèi)，每個所述功能卡裝載在對應(yīng)的一個所述卡槽結(jié)構(gòu)上，并通過所述總線背板與所述主卡信號連接；其中，所述功能卡的數(shù)量小于或者等于所述卡槽結(jié)構(gòu)的數(shù)量，每個所述功能卡具有多個測試通道；依據(jù)測試要求配置所述功能卡的數(shù)量，以將每個所述測試通道配置為與一個外置的探針卡信號連接。本發(fā)明提供的技術(shù)方案解決相關(guān)技術(shù)中測試裝置測試效率低、兼容性差且容易造成資源浪費的技術(shù)問題。