一種電源芯片低噪聲特性測試裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201811535481.0 申請日 -
公開（公告）號 CN109471019B 公開（公告）日 2021-10-19
申請公布號 CN109471019B 申請公布日 2021-10-19
分類號 G01R31/28（2006.01）I;G01R31/40（2014.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 孫泉;齊敏;萬中強 申請（專利權(quán)）人 江蘇集萃微納自動化系統(tǒng)與裝備技術(shù)研究所有限公司
代理機構(gòu) 蘇州市中南偉業(yè)知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 曹成俊
地址 215100江蘇省蘇州市相城區(qū)高鐵新城環(huán)秀湖大廈（原怡城園藝）南三、四樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種電源芯片低噪聲特性測試裝置，包括被測電源芯片；與被測電源芯片連接的工頻信號陷波電路；與所述工頻信號陷波電路連接的可調(diào)節(jié)增益的低噪聲放大器；與所述低噪聲放大器連接的單端輸入轉(zhuǎn)差分輸入電路；與所述單端輸入轉(zhuǎn)差分輸入電路連接的差分輸入高精度數(shù)模轉(zhuǎn)換器；與所述差分輸入高精度數(shù)模轉(zhuǎn)換器連接的處理單元；所述處理單元與電平轉(zhuǎn)換器連接，所述電平轉(zhuǎn)換器與數(shù)據(jù)接收設(shè)備連接的技術(shù)方案，本發(fā)明可用于電源芯片低噪聲特性的測試。