一種電子分劃裝表精度標定方法及系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110595483.4 申請日 -
公開（公告）號 CN113310351A 公開（公告）日 2021-08-27
申請公布號 CN113310351A 申請公布日 2021-08-27
分類號 F41G1/16（2006.01）I 分類 武器;
發(fā)明人 祁海軍;趙金博;翟漫;魏洪苗;王卓;高旭輝 申請（專利權(quán)）人 北京波譜華光科技有限公司
代理機構(gòu) 天津博潤嘉泓知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 李釗博
地址 100015北京市朝陽區(qū)酒仙橋路2號院內(nèi)11所1號樓3層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種電子分劃裝表精度標定方法及系統(tǒng)，其方法包括，將整個視場平均劃分為對稱的四個子視場，在任一子視場內(nèi)進行S型線測試得到經(jīng)緯儀數(shù)據(jù)；對經(jīng)緯儀數(shù)據(jù)進行數(shù)據(jù)擬合得到像素點的密位值；將整個視場圖像劃分為多個區(qū)塊，分別為每個區(qū)塊設(shè)置對應(yīng)的密位轉(zhuǎn)換參數(shù)；根據(jù)像素點的密位值計算出該像素點的彈著點密位偏移值；基于該像素點所在區(qū)塊的密位轉(zhuǎn)換參數(shù)將該像素點的彈著點密位偏移值轉(zhuǎn)換成彈著點密位偏移值坐標。本發(fā)明僅測試部分瞄具視場，能夠有效的在保證測試效果的情況下提高測試效率；在不同的區(qū)塊中設(shè)對應(yīng)的密位轉(zhuǎn)換參數(shù)，將每一像素對應(yīng)相應(yīng)的角度進行換算，極大彌補了鏡頭畸變帶來的誤差，使得電子分劃的裝表精度得以提高。