一種儀表分塊刻度檢測方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201810852786.8 申請日 -
公開（公告）號 CN109063637B 公開（公告）日 2021-12-07
申請公布號 CN109063637B 申請公布日 2021-12-07
分類號 G06K9/00（2006.01）I;G06K9/32（2006.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 林傳文;鄧宏平;汪俊鋒;程炳權(quán) 申請（專利權(quán)）人 安徽慧視金瞳科技有限公司
代理機構(gòu) 合肥洪雷知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 徐贛林
地址 230000 安徽省合肥市巢湖市居巢經(jīng)濟開發(fā)區(qū)亞父園區(qū)中國科大英才創(chuàng)新創(chuàng)業(yè)基地
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種儀表分塊刻度檢測方法，涉及儀表檢測技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明包括如下步驟：S01：得到一張無刻度亮起儀表圖片和一組刻度區(qū)域發(fā)生順序亮起更新的儀表圖片；S02：在無刻度亮起儀表圖片中選擇刻度條外框，實現(xiàn)對刻度區(qū)域定位；S03：對刻度區(qū)域進行背景建模；S04：對刻度亮起狀態(tài)進行采樣；S05：檢測刻度亮起狀態(tài)，并識別刻度亮起數(shù)量。本發(fā)明通過人工標記關(guān)鍵點對刻度區(qū)域進行自動定位，通過對刻度區(qū)進行背景建模并對刻度區(qū)亮起狀態(tài)進行采樣，檢測刻度亮起狀態(tài)，并完成統(tǒng)計和識別刻度亮起數(shù)量，人工成本低、誤差小、穩(wěn)定性和效率高。