光纖端面檢測方法以及光纖端面拋光及檢測設(shè)備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201410713984.8 申請日 -
公開（公告）號 CN104536090A 公開（公告）日 2015-04-22
申請公布號 CN104536090A 申請公布日 2015-04-22
分類號 G02B6/25(2006.01)I;G01N21/88(2006.01)I;G01N21/94(2006.01)I;G01B11/255(2006.01)I 分類 光學;
發(fā)明人 孫克雷 申請（專利權(quán)）人 南京光騰通信科技有限公司
代理機構(gòu) - 代理人 -
地址 210001 江蘇省南京市鼓樓區(qū)新模范馬路66號南郵科技園13F
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了光纖端面拋光及檢測設(shè)備以及光纖端面檢測方法，設(shè)備包括電源裝置、光源、攝像裝置、圖像處理裝置、圖像顯示裝置、電機驅(qū)動裝置、放電裝置、光纖夾具裝置，步驟分放電熱熔步驟、圖像處理步驟、圖像判定步驟，本發(fā)明光纖端面檢測方法利用放電熱熔的方式處理光纖端面，可以對處理后的光纖端面的清潔度、損傷度、曲率半徑等數(shù)據(jù)進行自動檢測，消除光纖切割帶來端面凹凸不平以及存在切痕等問題，以達到拋光光纖端面的效果，處理后的光纖端面具有良好的表面質(zhì)量、均勻性及一致性，不需要進再行其它的機械處理就可以與其它光纖進行快速接續(xù)，本發(fā)明的設(shè)備具有體積小巧，操作簡便，便于用戶現(xiàn)場安裝的特點。