降低等效電阻的硅電容器及其制備方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201210552154.2 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN103022019A | 公開(公告)日 | 2013-04-03 |
申請公布號 | CN103022019A | 申請公布日 | 2013-04-03 |
分類號 | H01L23/64(2006.01)I;H01L21/02(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 陳杰;唐劍平;雷鳴;陳立軍 | 申請(專利權(quán))人 | 無錫納能科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 無錫市大為專利商標(biāo)事務(wù)所 | 代理人 | 無錫納能科技有限公司 |
地址 | 214072 江蘇省無錫市濱湖區(qū)蠡園開發(fā)區(qū)滴翠路100號530大廈2號樓2003室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明涉及一種降低等效電阻的硅電容器,包括襯底,在襯底上表面形成多個凹槽,在襯底的上表面和凹槽的表面形成導(dǎo)電層,在導(dǎo)電層上設(shè)置介質(zhì)層,在介質(zhì)層上設(shè)置多晶層;所述導(dǎo)電層、介質(zhì)層和多晶層依次設(shè)置在凹槽內(nèi),并且凹槽被多晶層填滿;其特征是:在所述多晶層上設(shè)置金屬層,金屬層與多晶層歐姆接觸;在所述金屬層上設(shè)置絕緣隔離層,絕緣隔離層覆蓋住下方的金屬層、多晶層和介質(zhì)層;在所述絕緣隔離層上設(shè)置第一連接孔和第二連接孔,在第一連接孔和第二連接孔處分別設(shè)置第一電極和第二電極,第一電極與導(dǎo)電層連接,第二電極與金屬層接觸。本發(fā)明在多晶層上覆蓋金屬鋁,制造工藝簡單,得到的電容器體積小、電容量大。 |
