用于內(nèi)建自測(cè)試的方法和設(shè)備

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201780088151.9 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN110446935B 公開（公告）日 2021-09-14
申請(qǐng)公布號(hào) CN110446935B 申請(qǐng)公布日 2021-09-14
分類號(hào) G01R31/28 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 陸明;姜培;馬建旭;白睿;陳學(xué)峰;王俊成 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 光梓信息科技（上海）有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京市浩天知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 王廣濤
地址 201203 上海市浦東新區(qū)亮秀路112號(hào)Y1座710室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及與內(nèi)建自測(cè)試(BIST)有關(guān)的方法、設(shè)備和編程，公開了一種用于內(nèi)建自測(cè)試的方法和設(shè)備。其中，一種用于內(nèi)建自測(cè)試的設(shè)備包括：基板上的一個(gè)或多個(gè)非時(shí)鐘和數(shù)據(jù)恢復(fù)(CDR)部件；所述基板上的信號(hào)發(fā)生器，所述信號(hào)發(fā)生器耦接到所述一個(gè)或多個(gè)非CDR部件中的至少一個(gè)；以及所述基板上的CDR部件，所述CDR部件耦接到所述一個(gè)或多個(gè)非CDR部件，其中所述CDR部件被配置為通過所述CDR部件從接收到的信號(hào)恢復(fù)時(shí)鐘數(shù)據(jù)，并且被配置為基于所述接收到的信號(hào)和所述時(shí)鐘數(shù)據(jù)來確定信號(hào)。