雙面沉積設(shè)備及方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202010221138.X | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113445029A | 公開(公告)日 | 2021-09-28 |
申請公布號 | CN113445029A | 申請公布日 | 2021-09-28 |
分類號 | C23C16/505(2006.01)I;C23C16/458(2006.01)I;C23C16/455(2006.01)I | 分類 | 對金屬材料的鍍覆;用金屬材料對材料的鍍覆;表面化學(xué)處理;金屬材料的擴(kuò)散處理;真空蒸發(fā)法、濺射法、離子注入法或化學(xué)氣相沉積法的一般鍍覆;金屬材料腐蝕或積垢的一般抑制〔2〕; |
發(fā)明人 | 呂光泉;張賽謙;劉忠武 | 申請(專利權(quán))人 | 拓荊科技股份有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京律盟知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 | 代理人 | 林斯凱 |
地址 | 110179遼寧省沈陽市渾南區(qū)水家900號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本申請涉及雙面沉積設(shè)備及方法。所述雙面沉積設(shè)備包括:腔室;上電極,其設(shè)置于所述腔室中且包括第一噴淋頭,所述第一噴淋頭用于提供第一反應(yīng)氣體至晶圓的上表面,以在所述上電極與所述晶圓的上表面之間形成第一等離子體區(qū);下電極,其設(shè)置于所述腔室中且包括第二噴淋頭,所述第二噴淋頭用于提供第二反應(yīng)氣體至所述晶圓的下表面,以在所述下電極與所述晶圓的下表面之間形成第二等離子體區(qū),其中所述第一噴淋頭提供第一反應(yīng)氣體的期間與所述第二噴淋頭提供第二反應(yīng)氣體的期間至少有部分重疊。 |
