一種大角度反射測試裝置
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202121329023.9 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN215574586U | 公開(公告)日 | 2022-01-18 |
申請公布號 | CN215574586U | 申請公布日 | 2022-01-18 |
分類號 | G01N21/01(2006.01)I;G01N21/55(2014.01)I;G01N21/25(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 李紅娟 | 申請(專利權(quán))人 | 上海鴻輝光聯(lián)通訊技術(shù)有限公司 |
代理機構(gòu) | 上海灣谷知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 楊希 |
地址 | 201822上海市嘉定區(qū)馬陸鎮(zhèn)橫倉公路2465號6幢 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本實用新型公開了一種大角度反射測試裝置,其包括:一底板;一連接在所述底板上的第一徑向調(diào)節(jié)架;一連接在所述第一徑向調(diào)節(jié)架上的移動滑臺;一安裝在所述移動滑臺上的載物臺;一固定安裝在所述底板上并位于所述移動滑臺前側(cè)的起偏器支架;一連接在所述起偏器支架上并位于所述載物臺下方的起偏器;連接在所述底板上并分別位于所述起偏器支架左右兩側(cè)的一第二徑向調(diào)節(jié)架和一第三徑向調(diào)節(jié)架;分別豎直安裝在所述第二徑向調(diào)節(jié)架和第三徑向調(diào)節(jié)架上的一第一角度盤和一第二角度盤;以及分別安裝在所述第一角度盤和第二角度盤上的一入射光纖準直器和一反射光纖準直器。本實用新型有效地實現(xiàn)了大角度測試待測物的反射測試參數(shù),滿足了不同的測試要求。 |
