一種基于雙隊列的容錯測量方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201010521783.X 申請日 -
公開（公告）號 CN102012242A 公開（公告）日 2011-04-13
申請公布號 CN102012242A 申請公布日 2011-04-13
分類號 G01D21/00(2006.01)I;G01G17/08(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 嚴明;張躍輝;楊斌 申請（專利權(quán)）人 湘潭及湘工程有限責(zé)任公司
代理機構(gòu) 湘潭市匯智專利事務(wù)所 代理人 湘潭三豐電子科技有限公司
地址 411101 湖南省湘潭市高新區(qū)創(chuàng)新大廈1202室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明屬于自動控制技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種對外部物理量的基于雙隊列的容錯測量方法。本方法采用雙隊列存放測量數(shù)據(jù)，根據(jù)有效性判斷和兼容性判斷的方法進行測量。物理量的測量采用高精度快速多次采樣取均值的方法消除隨機誤差，提高測量精度。測量結(jié)果進入隊列之前進行有效性判斷，根據(jù)設(shè)定動態(tài)隨機誤差范圍，判斷結(jié)果是否有效，用于消除一次隨機事件干擾。當出現(xiàn)連續(xù)兩次隨機事件干擾并已被采樣隊列記錄時，測量結(jié)果進入候補隊列，并最終給出正確的測量結(jié)果。該測量方法能夠消除正態(tài)分布特征的隨機誤差，排除一次隨機錯誤，并在容許連續(xù)兩次隨機錯誤的情況下正確測量物理量。本發(fā)明方法可普遍適用于具有動態(tài)隨機誤差特性的物理量的測量。