集成電路掃描測試的方法及系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110844436.9 申請日 -
公開（公告）號 CN113589153A 公開（公告）日 2021-11-02
申請公布號 CN113589153A 申請公布日 2021-11-02
分類號 G01R31/3185（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 楊文彬;萬郁蔥;陳志軍 申請（專利權(quán)）人 蘇州旗芯微半導體有限公司
代理機構(gòu) 南京艾普利德知識產(chǎn)權(quán)代理事務所（特殊普通合伙） 代理人 陸明耀
地址 215000江蘇省蘇州市虎丘區(qū)高新區(qū)金山東路78號集成電路產(chǎn)業(yè)創(chuàng)新中心213室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種集成電路掃描測試的方法和系統(tǒng)，所述方法包括如下步驟：步驟S1，將待掃描測試集成電路中所有掃描模式的控制寄存器連成一條獨立的掃描鏈，為第一掃描鏈；步驟S2，為每個掃描模式的控制寄存器復制一個影子寄存器,將所有影子寄存器連成第二掃描鏈；步驟S3，將待掃描測試集成電路中所有其他寄存器連成第三掃描鏈；步驟S4，增加一個掃描切換寄存器，配置至少兩種測試向量，用于掃描切換；步驟S5，輸入測試數(shù)據(jù)，由所述掃描切換寄存器配合對所述第一掃描鏈、第二掃描鏈和第三掃描鏈進行切換掃描測試，輸出測試后數(shù)據(jù)，完成對集成電路的掃描測試。本發(fā)明所述集成電路掃描測試的方法及系統(tǒng)，提高了測試覆蓋率。