一種二極電子元器件的檢測裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201620708907.8 申請日 -
公開（公告）號 CN205898962U 公開（公告）日 2017-01-18
申請公布號 CN205898962U 申請公布日 2017-01-18
分類號 G01R31/26(2014.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 高景旭;李龍剛;何康 申請（專利權(quán)）人 陜西恒太電子科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) - 代理人 -
地址 710065 陜西省西安市新城區(qū)西五路42號三樓內(nèi)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開了一種二極電子元器件的檢測裝置，包括基座、定位座和測試針組件，測試針組件由固定針和活動針組成，活動針的外側(cè)設(shè)有間距調(diào)整座，定位座呈由壓板和拉板組成的L型結(jié)構(gòu)，壓板中開設(shè)有下穿孔和下活動槽；間距調(diào)整座包括方型柱和活動板，方型柱開設(shè)有內(nèi)孔，方一側(cè)部連接有限位件；基座上開設(shè)有定位槽、上穿孔、上活動槽、側(cè)槽和限位槽。本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)簡單，通過將測試針組件設(shè)置成固定針和活動針，并利用帶推板的活動座來進(jìn)行兩者間距離的調(diào)整，調(diào)整方便快捷，滿足不同類型極電子元器件的檢測需求。