缺陷檢測方法及裝置、計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201911411819.6 申請日 -
公開（公告）號 CN113066043A 公開（公告）日 2021-07-02
申請公布號 CN113066043A 申請公布日 2021-07-02
分類號 G06T7/00;G06T7/136;G01N21/958;G01N21/88 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 劉新輝 申請（專利權(quán)）人 上海晨興希姆通電子科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海晨皓知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 成麗杰
地址 201700 上海市青浦區(qū)工業(yè)園區(qū)勝利路888號(崧澤大道10055號)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及物品檢測領(lǐng)域，公開了一種缺陷檢測方法及裝置、計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)。其中，缺陷檢測方法，包括將透明蓋板的一面作為正面、另一面作為背面，在正面上設(shè)置標(biāo)記；獲取透明蓋板的第一視圖和第二視圖；根據(jù)標(biāo)記在第一視圖中的位置、以及標(biāo)記在第二視圖中的位置，建立透明蓋板上各點在第一視圖中的位置和在第二視圖中的位置的映射關(guān)系；根據(jù)第一視圖和映射關(guān)系、獲取映射視圖；獲取同一缺陷在映射視圖和第二視圖上的位置差值作為映射偏差值，根據(jù)映射偏差值判斷缺陷位于正面或背面。本發(fā)明實施方式所提供的缺陷檢測方法及裝置、計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，具有在不額外增加生產(chǎn)成本和占地空間的同時，提升缺陷檢測的準(zhǔn)確性的優(yōu)點。