半導(dǎo)體功率器件的終端結(jié)構(gòu)及其制造方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201510845704.3 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN106803515A | 公開(公告)日 | 2017-06-06 |
申請公布號 | CN106803515A | 申請公布日 | 2017-06-06 |
分類號 | H01L29/06(2006.01)I;H01L21/18(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 高文玉;孫娜;陳智勇 | 申請(專利權(quán))人 | 寧波達(dá)新半導(dǎo)體有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 上海浦一知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 寧波達(dá)新半導(dǎo)體有限公司;上海達(dá)新半導(dǎo)體有限公司 |
地址 | 315400 浙江省寧波市余姚市經(jīng)濟(jì)開發(fā)區(qū)城東新區(qū)冶山路479號科創(chuàng)大樓13層1306室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種半導(dǎo)體功率器件的終端結(jié)構(gòu),包括:多個P型場限環(huán);介質(zhì)隔離條將P型場限環(huán)之間的N型半導(dǎo)體材料表面完全覆蓋;SIPOS層覆蓋在各P型場限環(huán)的表面上并延伸到介質(zhì)隔離條表面上;在SIPOS層表面覆蓋有介質(zhì)保護(hù)層。SIPOS層和P型場限環(huán)直接接觸,SIPOS層和N型半導(dǎo)體材料間隔有所述介質(zhì)隔離條,本發(fā)明通過介質(zhì)隔離條來減少SIPOS層和底部半導(dǎo)體材料接觸的面積從而減少漏電,通過SIPOS層和P型場限環(huán)直接接觸來提高耐壓一致性。本發(fā)明還公開了一種半導(dǎo)體功率器件的終端結(jié)構(gòu)的制造方法。本發(fā)明能降低終端漏電,提高器件耐壓以及耐壓一致性,工藝簡單。 |
