MOSFET功率器件的終端結(jié)構(gòu)
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201420050226.8 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN203707142U | 公開(公告)日 | 2014-07-09 |
申請公布號 | CN203707142U | 申請公布日 | 2014-07-09 |
分類號 | H01L29/78(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I;H01L29/40(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 張海濤;陳智勇;孫娜 | 申請(專利權(quán))人 | 寧波達新半導體有限公司 |
代理機構(gòu) | 上海浦一知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 寧波達新半導體有限公司;上海達新半導體有限公司 |
地址 | 315400 浙江省寧波市余姚市經(jīng)濟開發(fā)區(qū)城東新區(qū)冶山路479號科創(chuàng)大樓13層1306室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本實用新型公開了一種MOSFET功率器件的終端結(jié)構(gòu),終端結(jié)構(gòu)形成在終端區(qū)中,終端區(qū)環(huán)繞在主動區(qū)周側(cè);主動區(qū)中的P阱和N-外延層形成的PN結(jié)為主結(jié);終端結(jié)構(gòu)包括多晶硅場板、第一金屬場板、第二金屬場板和溝槽截止環(huán);多晶硅場板由形成于主動區(qū)中的多晶硅柵延伸形成,且多晶硅場板下的第一介質(zhì)層厚度大于多晶硅柵下的柵介質(zhì)層厚度。溝槽截止環(huán)形成于終端區(qū)的最外側(cè);在第一介質(zhì)層表面形成有第二介質(zhì)層,第一和二金屬場板形成于第二介質(zhì)層表面;在橫向上第一和二金屬場板之間相隔一段距離,第一金屬場板位于終端區(qū)的靠近P阱的一側(cè)、第二金屬場板位于終端區(qū)的靠近溝槽截止環(huán)的一側(cè)。本實用新型能降低終端結(jié)構(gòu)的占用面積、制作工藝難度和成本。 |
